#1楼主：外围器件对测试的影响力

文章发表于：2007-07-04 02:14

我相信大家在测试过程中遇到过很多的问题,value偏大或偏小或量测不到,输出波形畸变,输入输出电压电流异常等等，这其中很多的问题都是由于搭建的外围器件影响的,下面我总结下我曾经遇到的情况

1.电容,测试中很多的pin都有bypass电容和去耦电容,bypass电容就是旁路电容,旁路电容的主要功能是产生一个交流分路，从而消去进入易感区的那些不需要的能量。去耦电容的主要功能就是提供一个局部的直流电源给有源器件，以减少开关噪声在板上的传播和将噪声引导到地。

电容会怎样直接或间接影响到测试呢？

1.容值选取不当。电容容值越大，充放电的时间增加，进而会增加电压上升或下降的时间。如果选取的值过大，而delay时间又不够的话，则可能在IC没有正常测试的情况下，进行测量某值，而得到错误的结果。如果值选取的过小，则有可能不能使IC稳定，从而也会得到不稳定的测试结果。频率越高，电容的特征曲线会由容性向感性变化，所以如果频率较高的情况下，如果选取的值不当，则电容可能表现的为电感的特性，造成输出波形畸变。

2.电容摆放的位置不当。电容的位置应该越靠近IC引脚越好，如果放置的较远，则有可能电容不能发挥作用。

3.电容的封装形式选取不当。不同的电容封装形式，所表现的ESR，ESL特性不一样，有的电路中需要稳压，有的是需要高频滤波，所以不同的用途应选取不同电容封装形式

4.如果是直差电容，电容的引脚会增加格外的电阻和电感，频率越高，所带来的危害也越大