zh-cnGoodspeed Rss5Sat, 30 Aug 2008 13:47:29 GMTTue, 06 May 2008 15:37:00 GMThttp://group.ednchina.com/72/9955.aspx本次博客大赛是Tektronix携手EDN举办的为期二个月的有奖博客大赛，大赛旨在帮助中国的工程师交流示波器的使用心得、测试技巧、探讨测试解决方案，征稿期间大家只需提交与测试测量相关的博客，并选择系统分类为“测试测量”或“虚拟仪器”即可参赛。欢迎广大爱好者踊跃参加！ 冠军：3000现金+500E币http://group.ednchina.com/72/9955.aspx彩云Wed, 24 Oct 2007 15:34:00 GMThttp://group.ednchina.com/72/5306.aspx来这里的估计都搞过Test.最好来几个专题讨论，例如：1、存储器测试方法 2、DFT,BIST,边界扫描技术等3、FPGA测试技术4、如何提高故障覆盖率等等http://group.ednchina.com/72/5306.aspxsowpcWed, 29 Aug 2007 14:05:00 GMThttp://group.ednchina.com/72/1233.aspx呵呵！ http://group.ednchina.com/72/1233.aspx夸父Wed, 04 Jul 2007 14:14:00 GMThttp://group.ednchina.com/72/141.aspx我相信大家在测试过程中遇到过很多的问题,value偏大或偏小或量测不到,输出波形畸变,输入输出电压电流异常等等，这其中很多的问题都是由于搭建的外围器件影响的,下面我总结下我曾经遇到的情况1.电容,测试中很多的pin都有bypass电容和去耦电容,bypass电容就是旁路电容,旁路电容的主要功能是产生http://group.ednchina.com/72/141.aspxsimon.mcTue, 03 Jul 2007 14:14:00 GMThttp://group.ednchina.com/72/117.aspx大家有什么问题或者有什么心得关于IC测试,请来讨论吧http://group.ednchina.com/72/117.aspxsimon.mc